WeiboHAST Yüksek Basınçlı Hızlandırılmış Yaşlanma Test Kutusu:İngilizce adı Yüksek Hızlandırılmış Stres Test Odası, çipin yüksek sıcaklık, nem ve yüksek basınç ortamlarını simüle etmek için kullanılır. Çipin güvenilirliğini ve ömrünü en kısa sürede kontrol etmek ve böylece ürünün kalitesini ve güvenilirliğini artırmak için belirli bir süre içinde hızlandırılmış yaşlanma testleri yapılır.

► Endüstri ilk basınç 4KG test aralığı,

► Otomatik kutu kapısı tasarımı, düğme kontrol kutu kapısı açılır, basınç koruması ile birlikte,

► Sıcaklık, nem ve basınç değerlerinin doğruluğunu sağlamak için yerleşik PID kontrol algoritması,

► Doymamış yüksek basınçlı buhar için sabit ıslak ısı (HAST) ve yüksek basınçlı buharlama (PCT) testlerine uyumlu,

Test standartlarını karşılamak：

AEC Q101 (Araç Sınıfı Çip)

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997 Elektrik Elektronik Çevre Testi Bölüm 2: Test Yöntemi Cx: Doymamış Yüksek Basınçlı Buharın Sabit Nemli Isısı

IEC60068-2-66-1994 Çevre Testleri Bölüm 2-66: Deneme Yöntemleri. Test Cx: Stabil durum ıslak ısı

JESD22-A100 döngüsü için sıcaklık ve nem offset ömrü

JESD22-A101 Stabil Durum Sıcaklığı, Nem / Ayrı Basınç, Ömrü Testi (Sıcaklık, Nem, Ayrı Basınç Ömrü)

JESD22-A102 Yüksek basınçlı buharlama testi (hızlandırılmış anti-nem penetrasyonu)

JESD22-A108 Sıcaklık, taraflı gerilim ve çalışma ömrü

JESD22-A110 HAST Yüksek Hızlandırılmış Sıcaklık Ne Stres Testi

JESD22-A118 Sıcaklık ve nem tarafsız yüksek hızlı stres deneyi UHAST (tarafsız voltaj doymuş yüksek voltajlı buhar)

* Standart olmayan modeller için herhangi bir spesifikasyon parametresi özelleştirilebilir