Ölçüm gereksinimleri
Apple logosunun üç boyutlu görünümünü tarayın ve farklı konumlardaki farkları ölçmek için profilleri çıkarın

Ana Özellikler Genel Bakış

1. temas olmayan ölçüm, entegre tasarım

2. Üç boyutlu profil tarama, çok işlevli veri işleme

3. Çeşitli malzemeler için doğru ölçüm için uygulanır

4. Kullanımı kolay, montaj kolay

5. Hızlı tarama, yüksek konumlama hassasiyeti

6. ± 0.5 ila ± 1μm Tekrarlama Hassasiyeti Garanti

7. Yüksek istikrar, güçlü müdahale dayanıklılığı

Ölçüm Sonuçları
Farklı konum farklılığı, temelde 0 ile 15 μm arasındadır

Şu aşamadaki ölçüm cihazlarındaki sorunları çözmek

1. Küçük aşınma miktarı, ölçüm zorluğu

2. malzeme için belirli bir gereksinim temas ölçümü, ölçüm malzemesi zararlı

3. Kötü aşınma konumu belirsiz, yavaş ölçüm hızı, düşük hassasiyet, büyük ölçüm hatası

4. Karmaşık yapı, yüksek maliyet