Uzak VNF-200 VCSEL Yakın Alan Özellikleri Analizörü, VCSEL'in yüzey yakın alan özellikleri analizi için tasarlanmıştır ve hızlı ölçüm hızı, yüksek optik çözünürlük ve yüksek ölçüm hassasiyeti ile birlikte özellikleri sunmaktadır. Cihaz, mikrooptik sistemleri görüntüleme sistemleri ile birleştirilen bir şekilde kullanır ve VCSEL'in özelliklerine göre tasarımını optimize eder ve VCSEL'in yüksek büyütmeli mikro görüntüleme radyasyon analizini gerçekleştirir. Tek bir ölçüm yoluyla VCSEL yüzeyi iki boyutlu dizi düzenlemesi, kötü nokta tespiti ve parlaklık verileri elde edilir ve aynı zamanda tek nokta boyutu elde edilir. Standartlara uygun test raporları çıkarmak için özel bir analiz yazılımı ile donatılmıştır. Üretim hattında ve laboratuvarda VCSEL yüzey özelliklerinin hızlı ve doğru analizi için uygundur.