Weiboİki Yuvarlı HAST Yüksek Basınçlı Hızlandırıcı Yaşlanma Kutusu: İngilizce adı (2-Zone HAST CHAMBER), IC paketleri, yarı iletkenler, mikroelektronik çipler, manyetik malzemeler ve diğer elektronik parçalar için yüksek basınç, yüksek sıcaklık, doymuş / doymuş ıslak ısı ve diğer hızlandırılmış ömür güvenilirliği testleri için kullanılır.

►Laboratuvar alanından tasarruf etmek için yukarı ve aşağı çift yuvarlı tasarım,1 cihazın fiyatı = 2 cihazın değeriEkipman kullanım maliyetlerini azaltmak.

►Tek ekran çift kontrol, karmaşık ve yoğun ayarları azaltmak, farklı örnekleri aynı anda test etmek ve test verimliliğini artırmak.

►96 yollu 偏nsiyon terminali, çip 偏nsiyon testini karşılamak için tasarlanmıştır.

►Ürünler HAST doymuş yüksek basınçlı buhar için sabit ıslak ısı testi ve PCT doymuş yüksek basınçlı buhar testi ile uyumludur.

►Otomatik kutu kapısı tasarımı, düğme kontrol kutu kapısı açılır ve basınç koruması ile birlikte gelir.

Uygulama Alanı：

PCB, IC yarı iletkenler, konektörler, devre panoları, manyetik malzemeler, polimer malzemeler için, EVA、 Hızlandırılmış yaşlanma ömrü testi için fotovoltaik bileşenler gibi endüstri ile ilgili ürünler

Standartlara uyuyor：

AEC-Q100-REV-J

AEC-Q101-REV-E

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997 Elektrik Elektronik Çevre Testi Bölüm 2: Test Yöntemi Cx: Doymamış Yüksek Basınçlı Buharın Sabit Nemli Isısı

IEC60068-2-66-1994 Çevre Testleri Bölüm 2-66: Deneme Yöntemleri. Test Cx: Stabil durum ıslak ısı

JESD22-A100 döngüsü için sıcaklık ve nem offset ömrü

JESD22-A101 Stabil Durum Sıcaklığı, Nem / Ayrı Basınç, Ömrü Testi (Sıcaklık, Nem, Ayrı Basınç Ömrü)

JESD22-A102 Yüksek basınçlı buharlama testi (hızlandırılmış anti-nem penetrasyonu)

JESD22-A108 Sıcaklık, taraflı gerilim ve çalışma ömrü

JESD22-A110 HAST Yüksek Hızlandırılmış Sıcaklık Ne Stres Testi

JESD22-A118 Sıcaklık ve nem tarafsız yüksek hızlı stres deneyi UHAST (tarafsız voltaj doymuş yüksek voltajlı buhar)

* Özelleştirilebilir herhangi bir parametre özellikleri ve model boyutu